在本次网络研讨会中，我们将介绍典型的等离子 FIB 横截面加工流程并讨论大束流抛光方法。期间，将展示 TESCAN 的 TRUE X-Sectioning和摇摆样品台，其目的是在使用高束流进行最终抛光时抑制伪影的产生，并提高横截面的表面质量。最后，我们将展示如何通过等离子 FIB-SEM，不仅能加速横截面制备，还能改进 3D FIB-SEM 三维重构分析，以此更好地了解您的材料。