 在微纳米世界里，每一寸材料的精准去除都至关重要。激光集成到FIB室与传统的独立激光刻蚀和PFIB协同处理，究竟哪种技术能更高效地解锁材料分析的新维度？泰思肯TESCAN提供一种新方法，通过独立的激光刻蚀和PFIB系统进行并行处理，同时处理多个样品，提高了工作效率。下面通过案例来展示这种技术组合如何节省大量时间（从70%到95%以上），并且提供了高质量的样品横截面。 |
 引言：如何将激光刻蚀与FIB技术融合，以更高的速度和精度处理超大尺寸样品。泰思肯将带您深入了解激光集成与独立激光刻蚀及PFIB协同处理的较量，揭示哪种方法能更高效地推动您的研究和生产。 通过激光刻蚀去除所需位点外围的大部分材料，再通过FIB切割和抛光得到横截面，两种技术相结合最终实现了超大尺寸样品处理所需的速度和精度。而这种组合方式的最新阶段是采用激光刻蚀和PFIB刻蚀实现协同处理，进... |
 动态三维CT成像技术在科研与应用领域一直面临着诸多挑战，而TESCAN对此进行了深入研发，取得了一系列显著成果：实现图像的快速获取，每旋转360°的时间分辨率可低至10秒；开发专用的四维软件包，支持四维重建、自动时间检测及动态可视化功能；推出了针对固定样品台和原位装置的专用原位动态成像系统，该系统能够灵活旋转X射线源和探测器。区别于传统牺牲时间进行高分辨成像的动态显微CT 产品，TESCAN... |
 ——更高效、更便捷、更准确的表征和分析其矿物学-化学成分特征 |
 泰思肯TESCAN，一个捷克品牌，其电子显微镜产品在全球范围内被广泛使用，包括美国NASA、哈佛大学、牛津大学以及保时捷汽车工厂等知名机构。自电镜之乡布尔诺起家，泰思肯TESCAN经过30年的发展，已经成为尖端技术和高科技产品的主要出口商之一。从最初的5位创始人到现在的700多名员工，并且一直保持拓展势头。 |
 【文章导读】这项研究工作在TESCAN MIRA3超高分辨场发射扫描电镜（FE-SEM）上完成，在本研究中使用的样 |
 日前，SGS集团（SGS S.A.）宣布已正式将TESCAN自动矿物分析系统（TIMA-X）配置到其在加拿大实验室 |
 FIB-SEM双束电镜不仅仅是将聚焦离子束与扫描电镜集成于一体，更重要的是通过集成其他辅助系统使FIB-SEM的加工及分析功能更加丰富...... |
 TESCAN董事会主席兼CEO JaroslavKlíma成为今年捷克斯洛伐克显微学会的获奖者，他于5月14日在2019年度捷克和斯洛伐克显微学会会议上被授予终身成就奖。 |
在微纳米世界里，每一寸材料的精准去除都至关重要。激光集成到FIB室与传统的独立激光刻蚀和PFIB协同处理，究竟哪种技术能更高效地解锁材料分析的新维度？泰思肯TESCAN提供一种新方法，通过独立的激光刻蚀和PFIB系统进行并行处理，同时处理多个样品，提高了工作效率。下面通过案例来展示这种技术组合如何节省大量时间（从70%到95%以上），并且提供了高质量的样品横截面。 |
引言：如何将激光刻蚀与FIB技术融合，以更高的速度和精度处理超大尺寸样品。泰思肯将带您深入了解激光集成与独立激光刻蚀及PFIB协同处理的较量，揭示哪种方法能更高效地推动您的研究和生产。 通过激光刻蚀去除所需位点外围的大部分材料，再通过FIB切割和抛光得到横截面，两种技术相结合最终实现了超大尺寸样品处理所需的速度和精度。而这种组合方式的最新阶段是采用激光刻蚀和PFIB刻蚀实现协同处理，进... |
动态三维CT成像技术在科研与应用领域一直面临着诸多挑战，而TESCAN对此进行了深入研发，取得了一系列显著成果：实现图像的快速获取，每旋转360°的时间分辨率可低至10秒；开发专用的四维软件包，支持四维重建、自动时间检测及动态可视化功能；推出了针对固定样品台和原位装置的专用原位动态成像系统，该系统能够灵活旋转X射线源和探测器。区别于传统牺牲时间进行高分辨成像的动态显微CT 产品，TESCAN... |
——更高效、更便捷、更准确的表征和分析其矿物学-化学成分特征 |
泰思肯TESCAN，一个捷克品牌，其电子显微镜产品在全球范围内被广泛使用，包括美国NASA、哈佛大学、牛津大学以及保时捷汽车工厂等知名机构。自电镜之乡布尔诺起家，泰思肯TESCAN经过30年的发展，已经成为尖端技术和高科技产品的主要出口商之一。从最初的5位创始人到现在的700多名员工，并且一直保持拓展势头。 |
经典案例 全部案例 最新案例 |
 在本次网络研讨会中，我们将介绍典型的等离子 FIB 横截面加工流程并讨论大束流抛光方法。期间，将展示 TESCAN 的 TRUE X-Sectioning和摇摆样品台，其目的是在使用高束流进行最终抛光时抑制伪影的产生，并提高横截面的表面质量。最后，我们将展示如何通过等离子 FIB-SEM，不仅能加速横截面制备，还能改进 3D FIB-SEM 三维重构分析，以此更好地了解您的材料。 |
【文章导读】这项研究工作在TESCAN MIRA3超高分辨场发射扫描电镜（FE-SEM）上完成，在本研究中使用的样 |
日前，SGS集团（SGS S.A.）宣布已正式将TESCAN自动矿物分析系统（TIMA-X）配置到其在加拿大实验室 |
TESCAN董事会主席兼CEO JaroslavKlíma成为今年捷克斯洛伐克显微学会的获奖者，他于5月14日在2019年度捷克和斯洛伐克显微学会会议上被授予终身成就奖。 |
在本次网络研讨会中，我们将介绍典型的等离子 FIB 横截面加工流程并讨论大束流抛光方法。期间，将展示 TESCAN 的 TRUE X-Sectioning和摇摆样品台，其目的是在使用高束流进行最终抛光时抑制伪影的产生，并提高横截面的表面质量。最后，我们将展示如何通过等离子 FIB-SEM，不仅能加速横截面制备，还能改进 3D FIB-SEM 三维重构分析，以此更好地了解您的材料。 |
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