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TESCAN MIRA
TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程,从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。
Automated_particle_analysis_of_air_filters-sub.pdf
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Elemental_Analysis_of_Diatom_Cell_walls_using_a_FIB-SEM-TOF-SIMS-sub.pdf
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Imaging nanocrystalline diamond with the new TESCAN S8000 microscope-sub.pdf
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Inspection_of_Li-ion_batteries_structure_with_the_new_TESCAN_S8000G_FIB-SEM_system-sub.pdf
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Investigation_of_fibres_for_nonwoven_fabric_and_their_size-sub.pdf
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半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技(TWSE:3055)参加6月29日至7月1日举办的SEMICON China2023,今年特别携手合作伙伴-来自捷克的全球知名电子显微仪器制造商TESCAN共同于会场中展示FIB-SEM与STEM最新技术与半导体解决方案!
2023-06-19
经过30 年的发展,来自布尔诺的TESCAN电子显微镜成为了尖端技术和高科技出口产品之一,服务于全球各大知名高校和企业,从最初的5个创始人到今天650 名员工,达到了发展以来的巅峰。2021年,作为TESCAN新启点,新征程,将继续在电子显微镜领域,成就客户,赋能于中国电镜事业发展。
2021-10-25
  利用扫描电子显微镜观察样品时,会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其他分析的需要等等,不同的关注点之间需要不同的拍摄条件,有时甚至相互矛盾。那我们该如何根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件呢?  泰思肯将陆续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》,帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况,将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能!  第三节常规拍...
2024-04-06
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