Micro-CT 是一种成熟的无损结构表征方法。 多年来,随着软硬件的发展,显微CT成为了研究材料行为的首选解决方案, 其中,TESCAN已拥有无与伦比的实时动态4D扫描技术,突破性地将时间分辨率降低至仅仅几秒钟。然而,传统显微CT的图像对比度是基于原子数和材料密度而产生的,因此在某些情况下很难做到对样品成分进行精确分析。如今TESCAN解决了这一难题。
TESCAN “Spectral CT” - 这是一场计算机断层扫描技术的革命,我们正处于探测器技术变革的最前沿。传统显微CT测量的是X射线穿过样品后能量强度的损失,而 “Spectral CT”则是捕捉离开X射线源以及它与样品相互作用后的X射线光谱。这样就可以更精确地测量X射线与不同物质间的相互作用,进而真正地捕捉到不同材料的光谱特征。
“Spectral CT”,可以通过测量吸收边缘来准确识别元素。通过分析X射线光谱的形状和峰值,获得传统CT无法提供的对比度,甚至能利用一次扫描中的多种能量来增强实现类似“双能CT”的效果。它是首个具有化学分析能力技术的显微CT ,可对样品内部特征进行高质量、非破坏性结构表征。
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