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德国工业自动化研究所FAPS安装了 AMBER X,正在做哪些研究?

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发表时间:2022-09-05 12:04来源:TESCAN

【研究所介绍】


德国工业自动化研究所(Institute for Factory Automation and Production Systems,简称FAPS)成立于1982 年。其首要目标是整合所有制造工厂形成一个综合性的计算机集成理念。Franke 教授将研究重点放在机电一体化产品的创新和跨学科制造工艺方法上。


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该研究涵盖了机电一体化产品的整个工艺链,从包装电子元件开始,主要关注电子元件的组装(焊锡印刷、组装、焊接、测试)和电气驱动器的生产过程(绕组方法、连接技术、磁铁安装)。此外,研究重点考虑了开发中涉及的方法和设备,以及连接和嵌入电缆系统的组装。






【仪器介绍】


FAPS将使用 FIB-SEM 进行银印刷和铜涂层分析,以改进机电一体化系统、电池组件、增材制造等


AMBER X 提供等离子 FIB 与超高分辨率 (UHR) 场发射 SEM 的独特组合,用于多尺度材料表征。 FAPS 将通过 FIB-SEM 用于改进在各种行业的产品,包括汽车、印刷电子、电池和增材制造、可再生能源和医疗技术。

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图1:研究工程师Martin Muckelbauer正在FAPS实验室工作


【研究方向】



FAPS研究工程师 Martin Muckelbauer 说:“当我们购买 FIB-SEM 时,我们正在寻找一种具有高度灵活性的强大仪器,以便我们可以使用它来表征各种材料。我们的研究主要来自涉及大样本区域的行业,但还需要以高分辨率和放大率捕捉微小、精确的细节。因此,AMBER X 的样品多功能性和 UHR 成像能力以及高通量对我们来说非常重要。”


FAPS德国工业自动化研究所正在研究银印技术,以提高各种消费产品中电子元件的可靠性。他们正在使用 AMBER X 进行三维 (3D) 故障分析和表征,以查看分层、开裂、热点和孔隙率。


涉及铜涂层技术的研究侧重于提高导电性,以消除结构中的氧化物和孔隙。这项工作将有助于改进逆变器和电池技术以及增材制造。 AMBER X 非常适合这种应用,因为它具有切割材料层的高通量能力以及提供样品表面和熔化颗粒的高分辨率细节的能力。


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TESCAN负责材料科学中 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备的产品营销经理 Martin Sláma 表示:“FAPS 正在通过突破电子研究的界限来帮助改善世界。他们正在寻找一种多功能仪器,可以为他们繁忙的实验室支持各种材料。 AMBER X 满足了他们对灵活性、稳健性和轻松分析大面积表征的需求。”



 
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