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TESCAN TENSOR 一款专用分析型4D-STEM

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发表时间:2024-05-24 13:48


TESCAN TENSOR 4D-STEM四维扫描透射电子显微镜的创新集成设计,实现了传统STEM与4D-STEM数据的同步采集,结合先进的能谱技术,为材料科学领域提供了一款全新体验的分析工具。

4D-STEM 测量的性能、易用性以及因此而收到影响的可用性,历来受到现有(扫描)透射电镜镜筒缺乏4D-STEM组件集成的制约,这些镜筒最初就并非为此目的而设计。而TESCAN TENSOR则不同,它能同步获取传统STEM、4D-STEM信息,还有能谱信息,与强大的软件解决方案相结合,意味着它是一款分析型4D-STEM显微镜。

什么是分析型4D-STEM?


类型

获取信息

传统的STEM

4D-STEM

分析型 4D-STEM TENSOR

2D ROISTEM断层扫描相

2D
倒易空间信息 - 电子衍射花样


_

EDS能谱图象


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应用于:功能材料、薄膜、合成或天然的纳米晶表征


分析型4D-STEM:更全面的获取电子束与样品相互作用的全部信息

4D-STEM是真正实现多模态表征纳米级材料的特性(如形态、化学和结构)的显微技术。在STEM数据集中的每个像素上,TESCAN TENSOR 都可以快速且完美同步地获得衍射花样和能谱图,衍射花样和能谱数据揭示了电子束与样品相互作用的全部信息,从而更广泛地获取材料特性。

TESCAN TENSOR 一款专用分析型4D-STEM

TESCAN TENSOR用户界面的截图,衍射花样的采集,结合数据的分析和处理, 产生接近实时的取向图和相图体验。


综合测量 强大分析

TESCAN TENSOR 一款专用分析型4D-STEM

测量:STEM成像(BF、ADF、HAADF)、STEM 晶格成像、元素分析与分布、物相和取向分布、应力测量、3D断层成像(STEM、EDS、ED)

分析:ACOM和应力分析—用于分析和可视化晶界和应力测定;虚拟STEM—用于通过4D-STEM数据集分析和可视化虚拟STEM图象;3D图象和分析—用于重构和可视化三维形态和元素分布;PETS Advanced 软件—用于分析和重建旋进电子衍射断层成像

拓展:开放数据集,可连接外数据分析处理平台;外平台举例:HyperSpy, LiberTEM, Py4DTEM。


差异化独特性能 先进技术与组件

TESCAN TENSOR 一款专用分析型4D-STEM

超快且精准地 同步获取数据

TESCAN TENSOR 这款4D-STEM能够超快且精确的同步完成直接电子衍射成像、能谱(EDS)采集、电子束、电子束闸以及采集数据的实时分析和处理。

通过集成当前最先进的技术和组件来实现:

混合像素的直接电子衍射相机(DED)

近超高真空的样品区域

旋进电子衍射(PED)

快速、集成电子束闸

大立体角、对称、无窗能谱

实时4D-STEM分析和处理软件(Explore)

4D-STEM 数据
实时分析和处理

TESCAN TENSOR具有真正独特的功能是Explore,它是TENSOR的集成平台,用于大规模扫描衍射花样数据集的(近)实时处理和分析。Explore可以协助材料科学家、半导体科研人员和失效分析工程师以及晶体学家实现4D-STEM测量功能,不要求其具备STEM光学或4D-STEM数据分析和后处理的专业知识。


一台像扫描电镜一样 易于使用的STEM

TESCAN TENSOR 一款专用分析型4D-STEM

“开箱即用”像按按钮一样简单

科学家、工程师、技术人员或是学生们,都一直想要一种能轻松使用的TEM解决方案,它可以在不需要数周或数月的复杂电子光路调整和校准培训的情况下轻松使用。

TESCAN TENSOR 让您将时间花在如何表征样品,而不是在光路调试上。它具备测量所需的光学特性预设,如光束电流、会聚角、光斑大小和旋进开关,自动进行光学调整和对准。

所以,这是一台像TESCAN扫描电镜一样易于使用的分析型4D-STEM,一切以结果为导向,具备电子显微镜的所有优点和效率。这也意味着潜藏的经济效益,例如新手或新用户可快速上手高效使用设备,设备利用率提高了,投资回报也就更快。

 
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