第三场研讨会 | Micro-CT和增材制造：3D到4D的演变

Jan Dewanckele 是比利时根特 TESCAN XRE Micro CT 技术中心的高级应用科学家，获得根特大学（比利时）地球科学博士学位。他拥有超过10年的 micro-CT技术经验，专注于动态CT对各个应用领域的研究。

在过去的十年中，增材制造（AM）的发展令人印象深刻，它作为一种颠覆性的技术在整个制造业领域具有革命性的意义。然而，零件的最终质量的提升，仍然有许多障碍需要克服。显微计算机断层扫描（Micro-CT）是一种无损分析的技术，通过该技术可以获得一个完整样品高精细的三维形貌，广泛应用于增材制造零件的整个生命周期，包括工艺开发、工艺监控和最终零件质量检测。TESCAN 无惧挑战研发了micro CT系统，同时具备灵活性和多功能性，对样品进行4D研究提供了可能性。

在本次研讨会中，将会涉及到micro-CT的基础知识、3D打印样品的成像案例，并讨论micro-CT和动态CT的未来 –– 在外部条件或者自然变化的情况下，对样品进行更快速地连续扫描。如果您对这个令人兴奋的应用感兴趣的话，我们诚邀您加入本次研讨会，共同探讨micro CT为增材制造领域可以带来的无限可能性！

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说明：为了让更多的用户可以参与到本次研讨会中，每一场研讨会都有两个时间段可供选，内容相同，与会者可自行选择报名参加其中一个时间段的研讨会。

TESCAN 动态 micro CT 系统---DynaTOM

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邀请函 | TESCAN 2021年春季系列研讨会