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第七场研讨会 | 创新的FIB/SEM薄片提取解决方案,满足更高要求的TEM样品制备需求

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发表时间:2021-04-13 13:18
主题:Innovative FIB/SEM Lift-out Solutions for Advanced TEM Lamella Preparation Requirements
演讲人:Martin Slama

Martin SlámaTESCAN 公司材料科学和生命科学的FIB- SEM产品经理,有多年使用TESCAN等离子体FIB和镓离子 FIB- SEM进行TEM样品制备的经验。在加入TESCAN公司之前,Martin曾在布尔诺理工大学、中欧技术研究所和阿斯顿大学从事新材料开发和表征的工作。


时间段1414, 下午3:00– 4:00(北京时间)

时间段2415, 上午1:00– 2:00(北京时间)


透射电子显微镜(TEM)能否对样品进行分析往往取决于样品制备的质量是否符合要求。当分析需要达到原子级分辨率,或者特征区域更小或更复杂时,对样品制备的要求就会趋向更严格。使用聚焦离子束(FIB)是制备TEM样品并保证其质量的最佳方法。当今新型材料日新月异,我们需要更先进的TEM样品制备方法才能保证真正观察到这些材料的细节

对于这些新型材料,样品厚度并不是必须考虑的唯一参数。FIB-SEM结合多种技术来实现特定位置的样品制备,这些技术有助于在样品上定位感兴趣的特征点或确定结构的方向。在一些情况下,样品将需要根据特定的几何形状来制备薄片,这就需要使用提取(lift-out)技术。

在本次网络研讨会中,您将了解到纳米机械手在FIB/SEM样品室中的特殊位置将如何有助于创新的提取方法和提取特殊的几何形状,这为TEM样品制备提供了新的可能性,也为进一步的研究提供了新的机会。

如您对本场研讨会感兴趣,点击“我要报名”立即报名参会吧!


说明:为了让更多的用户可以参与到本次研讨会中,每一场研讨会都有两个时间段可供选,内容相同,与会者可自行选择报名参加其中一个时间段的研讨会。


TESCAN FIB-SEM


 
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